1. Белоус, А. . Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем / А. И. Белоус, А. В. Емельянов. Г. Г. Чигирь. — ББК 32.844.15Издательство: Минск : Интегралполиграф, 2008Физическая характеристика: 208 с.

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
Языки: