Тестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем / А. И. Белоус, А. В. Емельянов. Г. Г. Чигирь

Автор(ы): Белоус, А И;
                   Емельянов, А. В.;
                   Чигирь, Г. Г.Язык документа: Русский.Страна публикации: Россия.Издательство: Минск : Интегралполиграф, 2008Физическая характеристика: 208 с.ISBN:978-985-6845-11-9.ББК: 32.844.15 ; 47.33.31Предметная категория: Белорусский национальный документ
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Книги, брошюры Книги, брошюры
Могилевская областная библиотека. Отдел хранения основного фонда
Выдается

500 экз.

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: