Информационно-параметрические методы совершенствования технологии производства субмикронных интегральных микросхем с применением тестовых структур : автореферат диссертации на соискание ученой степени кандидата технических наук : специальность 05.27.01 / Антон Викторович Емельянов ; Учреждение образования "Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники"

Автор(ы): Емельянов, Антон ВикторовичОтветственные организации: Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники, МинскЯзык документа: Русский ; of summary,Белорусский ; of summary,Русский ; of summary,Английский.Страна публикации: BY.Издательство: Минск, 2012Физическая характеристика: 24 с. : ил.ББК: 47.33.31 ; 05.27.01Note(s): Резюме на белорусском, русском и английском языках; Список публикаций соискателя: с. 17—21 (37 назв.).Наименование темы, используемое как предмет: НАДЕЖНОСТЬ | АВТОРЕФЕРАТЫ | ТЕХНОЛОГИЯ ПРОИЗВОДСТВА | ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЕ СТРУКТУРЫ | ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ
Метки из этой библиотеки: Меток нет.
Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки.
    средняя оценка: 0.0 (0 голосов)
Тип единицы Местонахождение Состояние
Авторефераты диссертаций Авторефераты диссертаций
Могилевская областная библиотека. Отдел хранения основного фонда
Выдается

Резюме на белорусском, русском и английском языках

Список публикаций соискателя: с. 17—21 (37 назв.)

60 экз.

Нет никаких комментариев для этого документа.

Войти в учётную запись для возможности публиковать комментарии.
Языки: