000 01565cam0 22004091ib4500
001 BY-MA0000-br1396096
005 20211221141014.0
010 ^a978-985-6845-11-9.
100 ^a20100203d2008 y0rusy50 ca
101 ^arus
102 ^aru
105 ^aa z 000yy
109 ^aaa
200 1 ^aТестовые структуры в системах управления качеством интегральных микросхем
^fА. И. Белоус, А. В. Емельянов. Г. Г. Чигирь
210 ^aМинск
^cИнтегралполиграф
^d2008
215 ^a208 с.
345 ^9500 экз.
610 0 ^aМИКРОСХЕМЫ
610 0 ^aИНТЕГРАЛЬНЫЕ МИКРОСХЕМЫ
610 0 ^aУПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ
610 0 ^aПОЛУПРОВОДНИКИ
610 0 ^aМІКРАСХЕМЫ
610 0 ^aІНТЭГРАЛЬНЫЯ МІКРАСХЕМЫ
610 0 ^aКІРАВАННЕ ЯКАСЦЮ
610 0 ^aПАЎПРАВАДНІКІ
615 ^3BY-SEK-ar1826174
^aБелорусский национальный документ
686 ^a32.844.15
^v2
^2rubbk
686 ^a47.33.31
^v4
^2rugasnti
690 ^a1
^2Base
^9BY-MA0000
^xRSEK
700 1 ^aБелоус
^bА. .
^gА И
701 1 ^aЕмельянов
^bА. В.
701 1 ^aЧигирь
^bГ. Г.
801 0 ^aBY
^bBY-MA0000
^c20100203
^gpsbo
801 2 ^aBY
^bBY-MA0000
^c20180802
^gpsbo
899 ^aBY-MA0000
^h32.844.15
^iБ 43