1. Фелдман, Л. Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер. — ББК 24.582Издательство: Москва : Мир, 1989Физическая характеристика: 342 с. : ил. ; 22 см

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
Языки: