1. Валиев, Р. З. Кристаллогеометрический анализ межкристаллитных границ в практике электронной микроскопии / Р. З. Валиев, А. Н. Вергазов, В. Ю. Герцман ; АН СССР. Институт проблем сверхпластичности металлов. — ББК 22.37Издательство: Москва : Наука, 1991Физическая характеристика: 230, [1] с. : ил. ; 22 см.

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
2. Григорьев, А. Я. Физика и микрогеометрия технических поверхностей / А. Я. Григорьев ; Национальная академия наук Беларуси, Институт механизации металлополимерных систем им. В. А. Белого. — ББК 22.37Издательство: Минск : Беларуская навука, 2016Физическая характеристика: 247 с. ; 27 см

Действия: Заказать Добавить в корзину
3. Васильева, Л. А. Электронная микроскопия в металловедении цветных металлов / Л. А. Васильева, Л. М. Малашенко, Р. Л. Тофпенец. — ББК 34.23Издательство: Мінск : Наука и техника, 1989Физическая характеристика: 208 с.

Действия: Заказать Добавить в корзину
4. Дюков, В. Г. Электронная микроскопия локальных потенциалов / В. Г. Дюков, С. А. Непийко, Н. Н. Седов ; АН УССР, Институт физики. — ББК 22.331Издательство: Киев : Наукова думка, 1991Физическая характеристика: 198 с. : ил. ; 22 см.

Действия: Заказать Добавить в корзину
Языки: