1. Богданофф, Дж. Вероятностные модели накопления повреждений / Дж. Богданофф, Ф. Козин ; первод с английского и предисловие С. А. Тимашева. — ББК 30.14Издательство: Москва : Мир, 1989Физическая характеристика: 341 с. : граф. ; 22 см.

Действия: Заказать Зарегистрируйтесь, чтобы добавлять метки. Добавить в корзину
2.  Полупроводниковые сенсоры в физико-химических исследованиях / И.А. Мясникова [и др.] ; [отв. ред. С.Ф. Тимашев] ; АН СССР, Н.-и. физ.-хим. ин-т им. Л.Я. Карпова. — ББК 24.523Издательство: Москва : Наука, 1991Физическая характеристика: 326 с. : ил. ; 22 см.

Действия: Заказать Добавить в корзину
Языки: